新中國(guó)儀器儀表自主研發(fā)史(實(shí)驗(yàn)室儀器)

清光緒三十一年（1905年），清政府在京建立“權(quán)度制作所”，開(kāi)始制造簡(jiǎn)單的度量衡器具。

　　到1949年，北京已能制造簡(jiǎn)易天平。

　　1955年，北京度量衡廠試制成功200型分析天平。大稱量200克，感量0.4毫克。1957年，試制成功1－200型光學(xué)天平。大稱量200克，分度值0.1毫克。

　　1958年，該廠試制成功WT2型微量分析天平。大稱量20克，分度值0.01毫克。1964年1月，北京光學(xué)儀器廠研制成功精度達(dá)百萬(wàn)分之一克的GZT3－2型精密天平。大稱量2克，分度值0.001毫克，游標(biāo)微讀0.0001毫克。

　　1975年，北京光學(xué)儀器廠同中國(guó)計(jì)量科學(xué)研究院合作研制成功BDT2－1型電子微量天平。大稱量2克，分辨率0.5微克。

　　1986年，該廠同北京光電技術(shù)研究所合作研制成功MD200－1型上皿電子天平。大稱量200克，電稱量范圍20克／1毫克、200克／10毫克。